אַלע קאַטעגאָריעס
נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן

היים>פּראָדוקטן>סעמיקאַנדאַקטער טעסט סעריע

N23010 סעריע 24 טשאַנאַלז הויך פּינטלעכקייַט פּראָוגראַמאַבאַל דק מאַכט צושטעלן
N23010 פראָנט טאַפליע
N23010 קאַנפיגיעריישאַן
N23010 דערציען טאַפליע
נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן
נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן
נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן
נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן

נ23010 סעריע הויך פּרעסיסיאָן מולטי טשאַננעל פּראָגראַממאַבלע דק מאַכט צושטעלן


N23010 series is a high-precision, multi-channel programmable DC power supply specially developed for the semiconductor industry, which can provide high-precision, stable and pure power for chips, and cooperate with the environmental test chamber for a number of environmental reliability tests. Its voltage accuracy up to 0.01%, support μA level current measurement, up to 24 channels for single unit, support local/remote (LAN/RS232/CAN) control to meet the needs of chip batch automatic testing.

ייַנטיילן צו:
הויפּט פֿעיִקייטן

● וואָולטידזש פּינטלעכקייַט 0.6מוו

● לאנג-טערמין פעסטקייַט 80ppm/1000ה

●אַרויף צו 24 טשאַנאַלז פֿאַר איין אַפּאַראַט

● וואָולטידזש ריפּאַל ראַש ≤2mVrms

● נאָרמאַל 19-אינטש 3U שאַסי

● דעוועלאָפּעד פֿאַר די סעמיקאַנדאַקטער אינדוסטריע

Application Fields

semiconductor/IC chip current leakage testing

פאַנגקשאַנז & אַדוואַנטאַגעס

אַקיעראַסי און פעסטקייַט ענשור פּרובירן רילייאַבילאַטי

Reliability test usually requires multiple chips to run for a long time under power supply. Take HTOL as an example, the number of samples are at least 231 pieces and the test time is up to 1000 hours. N23010 voltage precision is 0.6mV, long-term stability 80ppm/1000h, voltage ripple noise ≤2mVrms can effectively ensure the reliability of the user test process all round protection, ensure the safety of instruments and products under test.

accuracy and stability test

הינטער-הויך ינאַגריישאַן, שפּאָרן באַניצער ינוועסמאַנט

In the process of chip R&D, flow sheet and mass production. Usually it is necessary to carry out reliability test on multiple groups of samples. In addition, the leakage current of chip or jointed board is also an important test index. The traditional scheme usually adopts multiple linear power sources with data sampling, which is troublesome to connect and occupies test space. The N23010 integrates up to 24 power channels in a 19-inch 3U chassis to support μA-level current measurement, providing a highly integrated solution for large-scale chip testing.

שנעל דינאַמיש ענטפער

N23010 איז צוגעשטעלט שנעל דינאַמיש ענטפער פיייקייַט, אונטער די פול וואָולטידזש רעזולטאַט, די מאַסע ענדערונגען פון 10% צו 90%, וואָולטידזש אָפּזוך צו דער אָריגינעל וואָולטידזש רעדוקציע ין 50 מוו צייט איז ווייניקער ווי 200μs, עס קענען ענשור אַז די וואָולטידזש אָדער קראַנט העכערונג וואַוועפאָרם ין הויך גיכקייַט און קיין איבער שטופּ, און עס קענען צושטעלן סטאַביל מאַכט צושטעלן פֿאַר די שפּאָן אונטער פּרובירן.

סיקוואַנס עדיטינג

N23010 שטיצט סיקוואַנס עדיטינג פֿונקציע. יוזערז קענען שטעלן רעזולטאַט וואָולטידזש, רעזולטאַט קראַנט און איין שריט פליסנדיק צייט. 100 גרופּעס פון וואָולטידזש און קראַנט סיקוואַנסיז קענען זיין קאַסטאַמייזד לאָוקאַלי.

סיקוואַנס עדיטינג

פאַרשידן קאָמוניקאַציע צובינד, טרעפן די פאָדערונג פון אָטאַמאַטיק פּרובירן

שטיצן RS232, LAN, CAN פּאָרט, באַקוועם פֿאַר ניצערס צו בויען אָטאַמאַטיק פּרובירן סיסטעם.

דאַטאַבאַסע
אָנפרעג

הייס קאַטעגאָריעס